產品型號: Thick8000
產品時間: 2024-01-08
所 在 地: 深圳市寶安區(qū)福永鎮(zhèn)鳳凰第一工業(yè)區(qū)
x光鍍層測厚儀技術參數(shù)
元素分析范圍:S-U
含量分析范圍:PPM-99%
電壓:220V正負5V
測試平臺:三維維樣品移動平臺
探測器:SDD探測器
儀器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
樣品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm
樣品臺尺寸:393(W)x 258 (D)mm
x光鍍層測厚儀工作原理
當輻射撞擊在比例器后,即轉換為近幾年的脈波。電路輸出脈沖高度與能量撞擊大小成正比。由特殊物質所發(fā)出的X-射線可由其后的鑒別電路記錄。
使用X-射線熒光原理測厚,將被測物置于儀器中,使待測部位受到X-射線的照射。此時,特定X-射線將由鍍膜、素材及任何中間層膜產生,而檢測系統(tǒng)將其轉換為成比例的電信號,且由儀器記錄下來,測量X-射線的強度可得到鍍膜的厚度。
應用領域
汽車配件
五金工具
線路板
半導體框架
汽車空調設備
端子連接器
衛(wèi)浴、首飾等。