天瑞X射線熒光光譜儀是一種非破壞性分析儀器，其工作原理基于X射線的特性。通過將樣品置于X射線束中，當(dāng)X射線與樣品相互作用時(shí)，樣品中的原子會(huì)被激發(fā)并從高能級(jí)躍遷至低能級(jí)。在躍遷過程中，原子釋放出特定能量的X射線熒光光子。這些熒光光子的能量和強(qiáng)度與樣品中所含元素的種類和含量有關(guān)。
天瑞X射線熒光光譜儀由三個(gè)主要部分組成：X射線源、樣品臺(tái)和能量分散系統(tǒng)。X射線源產(chǎn)生高能量的X射線束，通常使用鉬或銅作為靶材。樣品臺(tái)支持待測樣品，并將其暴露于X射線束中。能量分散系統(tǒng)包括晶體或多道選擇器，用于分散和測量熒光光子的能量。
在進(jìn)行分析時(shí)，先要校準(zhǔn)光譜儀。通過使用已知成分和含量的標(biāo)準(zhǔn)樣品，建立起元素和熒光峰能量之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系。然后，將待測樣品放置在樣品臺(tái)上，并照射它們以產(chǎn)生熒光輻射。熒光光子從樣品中發(fā)出并被能量分散系統(tǒng)測量和記錄。
通過分析熒光光譜圖，可以確定樣品中存在的元素種類和含量。每個(gè)元素都會(huì)產(chǎn)生特定的熒光峰，其能量與該元素的特征相對(duì)應(yīng)。通過測量熒光峰的強(qiáng)度和能量，可以計(jì)算出元素的含量。此外，還可以提供額外的信息，如材料的結(jié)構(gòu)、相對(duì)比例和質(zhì)量等。
天瑞X射線熒光光譜儀具有許多優(yōu)點(diǎn)。
它是一種非破壞性的分析方法，不需要對(duì)樣品進(jìn)行物理或化學(xué)處理。其次，它具有快速分析速度和高靈敏度，可以同時(shí)檢測多個(gè)元素。此外，具有廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域，包括金屬材料分析、環(huán)境監(jiān)測、藥品檢測等。
