x射線測厚儀是一種專門應(yīng)用于半導(dǎo)體材料、電子器件、微電子學(xué)、光通訊和數(shù)據(jù)儲存工業(yè)中的金屬薄膜厚度測量。測量更小、更快、更薄Ux-720比現(xiàn)有其它的XRF儀器可以測量更小的面積、更薄的鍍層和更加快速?？蓽y試多鍍層，合金鍍層，能提供各類金屬層、合金層厚度的快速、準(zhǔn)確、穩(wěn)定、無損的測量。
x射線測厚儀的產(chǎn)品優(yōu)勢：
1、可進(jìn)行未知標(biāo)樣掃描、無標(biāo)樣定性，半定量分析。
2、操作簡單、易學(xué)易懂、精準(zhǔn)無損、高品質(zhì)、高性能、高穩(wěn)定性，快速出檢測結(jié)果。
3、可針對客戶個性化要求量身定做輔助分析配置硬件。
4、鍍層檢測，至多鍍層檢測可達(dá)5層，精度及穩(wěn)定性高。
5、激光定位和自動多點(diǎn)測量功能。
6、可檢測固體、粉末狀態(tài)材料。
7、運(yùn)行及維護(hù)成本低、無易損易耗品，對使用環(huán)境相對要求低。
x射線測厚儀具體的功能要求如下：
?。?）控制C型架拖動電機(jī)的運(yùn)行，實(shí)現(xiàn)C型架的前進(jìn)、后退以及精確定位等動作；
?。?）控制X光機(jī)快門的開關(guān)，監(jiān)測測厚儀的電源、冷卻系統(tǒng)以及紅外傳感器的工作狀態(tài)，實(shí)現(xiàn)人機(jī)的安全聯(lián)鎖；
?。?）與數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)進(jìn)行通信，完成厚度數(shù)據(jù)以及工作狀態(tài)的傳遞，實(shí)現(xiàn)測厚儀的標(biāo)準(zhǔn)塊校正和標(biāo)準(zhǔn)模式下的測量控制；
（4）控制標(biāo)準(zhǔn)塊驅(qū)動電機(jī)。在校正模式和標(biāo)準(zhǔn)模式下完成標(biāo)準(zhǔn)塊的正常旋轉(zhuǎn)；
?。?）設(shè)計(jì)簡單、高效的人機(jī)界面，監(jiān)測系統(tǒng)的運(yùn)行狀態(tài)，輸人系統(tǒng)的運(yùn)行參數(shù)。
