XRF光譜儀的基本原理
XRF工作原理是X射線光管發(fā)出的初級X射線照射樣品，樣品中原子的內(nèi)層電子被激發(fā)，當(dāng)外層電子躍遷時產(chǎn)生特征X射線，通過分析樣品中不同元素產(chǎn)生的特征熒光X射線波長（或能量）和強(qiáng)度，可以獲得樣品中的元素組成與含量信息，達(dá)到定性定量分析的目的。
X射線是一種波長較短的電磁輻射，通常是指能量范圍在0.1~100 keV的光子。X射線與物質(zhì)的相互作用主要有熒光、吸收和散射三種。
XRF光譜儀的無標(biāo)樣分析方法
對于以固體進(jìn)樣為主的X射線熒光分析技術(shù)，要獲得一套高質(zhì)量的固體標(biāo)準(zhǔn)樣品有一定難度，限制了X射線熒光分析的應(yīng)用范圍。
而XRF光譜儀無標(biāo)樣分析技術(shù)是20世紀(jì)90年代推出的新技術(shù)，其目的是不用標(biāo)準(zhǔn)樣品也可以分析各種樣品。它的基本思路是：由儀器制造商測量標(biāo)準(zhǔn)樣品，儲存強(qiáng)度和工作曲線，然后將這些數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)到用戶的X射線熒光分析系統(tǒng)中，并用隨軟件提供的參考樣品校正儀器漂移。因此，無標(biāo)樣分析不是不需要標(biāo)樣，而是將工作曲線的繪制由儀器制造商來做，用戶將用戶儀器和廠家儀器之間的計數(shù)強(qiáng)度差異進(jìn)行校正。其優(yōu)點(diǎn)是采用了制造商的標(biāo)樣、經(jīng)驗與知識，包括測量條件，自動譜線識辨，背景扣除，譜線重疊校正，基體校正等。無標(biāo)樣分析技術(shù)可以在沒有標(biāo)準(zhǔn)樣品的情況下分析各種樣品中的七十幾個元素，應(yīng)用范圍較廣，但其適用性也帶來了分析準(zhǔn)確度的局限性。
商檢系統(tǒng)已經(jīng)將XRF光譜儀無標(biāo)樣分析技術(shù)應(yīng)用到了進(jìn)出口的金屬材料和礦產(chǎn)品的檢驗中。尤其在進(jìn)口鐵礦中涉及安全衛(wèi)生環(huán)保要求的有害元素監(jiān)控，進(jìn)口銅礦、銅精礦中有害元素*判定等方面，獲得了很好的應(yīng)用。
