波長色散X射線熒光光譜儀適用于各種固體材料或液體，如金屬、玻璃、陶瓷、巖石、礦物、燃油、水質(zhì)及沉積物的定量分析及未知樣品的無標樣半定量分析，廣泛應用于鋼鐵、冶金、石化、地質(zhì)、環(huán)保、材料、電子等領(lǐng)域。
波長色散X射線熒光光譜儀的定量分析方法：
X射線熒光光譜法是一種相對分析方法，光譜儀只提供X射線熒光的強度，要找到熒光強度與樣品濃度的關(guān)系，需要一套高質(zhì)量的標準樣品，根據(jù)元素的濃度和已測的該元素的特征譜線的強度按一定關(guān)系進行擬合繪制工作曲線，以該工作曲線為基礎測試同類型樣品元素的組成和含量。
波長色散X射線熒光光譜儀的無標樣分析方法：
對于以固體進樣為主的分析技術(shù)，要獲得一套高質(zhì)量的固體標準樣品有一定難度，限制了分析的應用范圍。
它的基本思路是：
由儀器制造商測量標準樣品，儲存強度和工作曲線，然后將這些數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)到用戶的X射線熒光分析系統(tǒng)中，并用隨軟件提供的參考樣品校正儀器漂移。因此，無標樣分析不是不需要標樣，而是將工作曲線的繪制由儀器制造商來做，用戶將用戶儀器和廠家儀器之間的計數(shù)強度差異進行校正。
其優(yōu)點是采用了制造商的標樣、經(jīng)驗與知識，包括測量條件，自動譜線識辨，背景扣除，譜線重疊校正，基體校正等。
無標樣分析技術(shù)可以在沒有標準樣品的情況下分析各種樣品中的七十幾個元素，應用范圍較廣，但其適用性也帶來了分析準確度的局限性。
