X熒光光譜儀XRF是用X-射線管發(fā)出的初級線束輻照樣品，激發(fā)各化學元素發(fā)出二次譜線。是用X射線直接照射樣品發(fā)射X熒光，分光晶體將熒光光束色散后，測定各種元素的特征X-射線波長和強度，從而測定各種元素的含量；而光譜儀是通過濾光片得到背景相對較低的X射線，照射樣品發(fā)射X熒光，X熒光借助高分辨率敏感半導體檢測器與多道分析器將未色散的X-射線按光子能量進行色散，根據(jù)各元素特征能量的強度高低來測定各元素的量；根據(jù)各元素特征能量的強度高低來測定各元素的量，這就大大提高了儀器的信噪比，提高了能譜儀分析輕元素的能力。
X熒光光譜儀XRF的性能特點：
專業(yè)的水泥、鋼鐵、礦料等全元素分析，亦可用于鍍層檢測和RoHS檢測。
超薄窗大面積的進口SDD探測器。
內(nèi)置信噪比25倍。
抽真空樣品腔，有利于低含量輕元素的分析
針對不同樣品可自動切換準直器和濾光片。
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互獨立的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
智能全元素分析軟件，與儀器硬件相得益彰，且操作簡單。
X熒光光譜儀XRF的主要優(yōu)勢：
1、采用*的激發(fā)X光源，樣品激發(fā)結構和探測系統(tǒng)，大大提高儀器元素的檢測靈敏度（降低檢出限）；
2、具有現(xiàn)代化的外觀，結構和色彩，上蓋電動控制開關，更人性化；
3、準直器，濾光片自動切換，可適應不同的樣品測試要求；
4、大容量的樣品腔和高清攝像頭，樣品測量更靈活方便；
5、配備功能齊全的測試軟件。
