X射線熒光光譜儀具有重現(xiàn)性好,測量速度快,靈敏度高的特點。能分析B(5)~U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片,液體等,分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業(yè)樣品。無標(biāo)半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析,并能給出半定量結(jié)果,結(jié)果準(zhǔn)確度對某些樣品可以接近定量水平,分析時間短。薄膜分析軟件FP-MULT1能作鍍層分析,薄膜分析。測量樣品的zui大尺寸要求為直徑51mm,高40mm。
EDX3600B X熒光光譜儀是利用XRF技術(shù)解決國內(nèi)水泥廠、鋼鐵公司、粉末冶金企業(yè)等對復(fù)雜成份、多類型櫚中元素的快速、準(zhǔn)確分析。該技術(shù)的主要特征為:利用低能X光激發(fā)待測元素,對Si、S、AI、Na、Mg、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、等元素有良好的激發(fā)效果,并且測試時間短,大大提高了檢測效率和工作效率; 采用UHRD探測器,具有良好的能量線性和能量分辨率,及良好的能譜特性,較高的峰背比;采用自動穩(wěn)譜裝置,保證了儀器工作的一致性;利用解譜技術(shù)使譜峰分解,使采用UHRD探測器的分析儀對Si、S、AI等輕元素的測試具有和的分析精度;采用相似自動分類技術(shù)使分類更準(zhǔn)確,有效地克服基效應(yīng)對測量帶來的影響;采用多參數(shù)的線性回歸方法,使元素間的吸收、增強(qiáng)效應(yīng)得到明顯的消除。
X射線熒光光譜儀性能特點
專業(yè)的水泥、鋼鐵、礦料、粉末冶金、磁性材料等全元素分析,亦可用于鍍層檢測和RoHS檢測。
內(nèi)置信噪比增強(qiáng)器可有效提高儀器信號處理能力25倍。
針對不同樣品可自動切換準(zhǔn)直器和濾光片。
電制冷UHRD探測器,摒棄液氮制冷。
智能全元素分析軟件,與儀器硬件相得益彰,且操作簡單。